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X-射线镀层测试仪是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手,一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层.元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%,镀层厚度最薄可达0.005um,一般在20um内,小孔准直器(最小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
   X-射线镀层测试仪具备高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
  可任意多个可选择的分析和识别样品,相互独立的基体效应校正样品.多次测量重复性可达0.05um(对少于1um的最外层Au),长期工作稳定性为0.1um(对少于1um的最外层Au)。
   温度适应范围为15℃至30℃。
   电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
   适用于黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测和金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
  

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